<progress id="ukdiy"></progress>

      <delect id="ukdiy"></delect>
        <dl id="ukdiy"></dl>

        <em id="ukdiy"></em>

        <dl id="ukdiy"><ol id="ukdiy"></ol></dl><dl id="ukdiy"></dl>

        <dl id="ukdiy"><ins id="ukdiy"><small id="ukdiy"></small></ins></dl>
        <div id="ukdiy"></div>

        光电探测器知识大全

        分享到:
        点击量: 143705

        光电探测器的分类

          光电探测器分为光电二极管、雪崩光电管、四象限探测器、位敏探测器、波长感应探测器。

          1. 光电二极管(PIN):应用于一般通用场合。针对特殊应用,可以增加探测器信号放大和探测器前置滤光片。

          2. 雪崩光电管(APD):主要用于微弱信号场合,同时具备快速响应能力,可以提供各种尺寸和封装类型。

          3. 四象限探测器(Quadrant):由一个四激活区域的芯片组成,主要应用于位置传感。

          4. 位敏探测器(PSD):入射光能量转换为位置相对的连续电流输出,位置信号是相对于入射光的“光学中心”。

          5. 波长敏感探测器(WS):用于检测单色光波长或复合光的峰值波长,光谱分辨率可达0.01nm。

          应用范围:安全防护,激光测距,工业控制,分析仪器,军工航天,医疗设备,光通讯。

          

        光电探测器噪声分类

          光电探测器噪声包括:散弹噪声、热噪声、产生-复合噪声、1/f噪声和温度噪声?#21462;?/p>

          1、散弹噪声:由于光电探测器在光辐射作用或热激发下,光电子或载流子随机产生造成的。存在于真空发射管和半导体器件中,属于白噪声。

          2、热噪声:暗电流大小与偏压、温度及反向饱和电流密切相关。PN结外加正向偏压,暗电流随外加电压增大成指数急剧增大,远大于光电流,因此加正偏压无意义。PN结外加反向偏压,暗电流随反向偏压增大有所增大,**等于反向饱和电流,其值远小于光电流。

          3、产生-复合噪声:半导体中载流子产生与复合的随机?#36828;?#24341;起的载流子浓度的起伏。与散弹噪声本质相同,都是由于载流子随机起伏所致,所以有时将该噪声归并为散弹噪声。不是白噪声,低频限噪声。是光电探测器的主要噪声源。

          4、1/f噪声:(又称电流噪声、闪烁噪声或过剩噪声),低频噪声,几乎所有探测器都存在。探测器表面工艺状态对该噪声影响很大。频谱近似与频率成反?#21462;?#20027;要出现在1kHz以下的低?#30331;?#24037;作频率大于1kHz?#20445;?#19982;其他噪声相比可忽略。

          5、?#23545;?#22122;声:光电?#23545;?#31649;

          6、雪崩噪声:雪崩光电二极管

          7、温度噪声:热探测器本身吸收和传导?#28909;冉换?#24341;起的温度起伏。

          

        半导体光电探测器的结构

          RCE肖特基光电探测器结构的各层用分子束外?#30001;?#38271;在GaAs衬底上。谐振腔由GaAs-AlAs分布布拉格反射(DBR)的底部反射器和半?#35813;?#30340;顶部金(Au)接触形成。InGaAs吸收层的In克分子数低于10%,为了避免载流子俘获,两个异质结层都线性地形成25nm的梯?#21462;?#24635;的吸收区厚度为130nm左右,用来消除腔中的?#20013;?#27874;效应。通过耗尽区中吸收层位置的**化,得到电子和空穴的*小渡越时间。器件用光刻法制作,采用台面隔离和Au空桥连接顶部,接触到片上的微波?#36130;?#38754;传输线。Au接触层厚度为20nm,Si3N4涂盖层厚度200nm。

          

        光电探测器测试?#20302;?#20171;绍

          一、?#20302;?#30340;主要测试功能

          1、固定图案噪声和瞬时噪声

          2、响应率和探测率

          3、动态范围/线性度

          4、NETD

          5、非均匀性校正

          6、坏像元定位

          7、光谱响应

          8、串音/MTF

          二、组成

          测试?#20302;?#21253;括三个基本单元:

          一个带支撑的光学平台;

          一个带多种支架的控制柜;

          一台计算机:带有视频采集卡,数据采集

          和处理的软件。

          三、光学机械单元

          1. 一个光学平台,规格1.25m×1.25m

          2. 一个高温腔式黑体和一个差分黑体(可见 /红外源)

          3. 一个单色仪,一个光学调制盘和一个热释电探测器(用于测量光谱响应)

          4. 一个针?#35013;?#26631;和一套水平/垂直狭缝靶标(用于测?#30475;?#38899;和MTF)

          5. 一套光学?#20302;常?#29992;于将靶标聚焦在探测器上

          6. 三维电动调节移动台用于探测器的定位

          7. 一块连接探测器和控制柜的电路板

          四、控制机柜

          控制机柜包含以下单元:

          1.偏置电压发生器

          2.时钟信号发生器

          3.锁相放大器

          4.低噪声的模数转换器

          5.三维电动调节移动台控制器

          6.光学调制盘控制器

          7.差分黑体控制器

          8.高温腔式黑体控制器

          五、计算机和软件

          计算机配置了视频采集卡。采用windows操作?#20302;?#36719;件具有如下功能:

          1. 器件设置:单元/多元器件,像元数,帧频,积分时间,像元大小,视场角,坏像元的定义准则

          2. 偏置电压和时钟信号的设置

          3. 像元重组

          4. 瞬时噪声和固定图案噪声的测量

          5. 响应率,探测率和NETD计算

          6. 动态范围和线性度

          7. 坏像元定位

          8. 非均匀性校正

          9. 光谱响应曲线

          10. MTF曲线

          11. 串音

          12. 选择所需的区域

          13. 图形旋转,放大,自动范围

          14. 存储图像

        查询时时彩开奖号码

          <progress id="ukdiy"></progress>

            <delect id="ukdiy"></delect>
              <dl id="ukdiy"></dl>

              <em id="ukdiy"></em>

              <dl id="ukdiy"><ol id="ukdiy"></ol></dl><dl id="ukdiy"></dl>

              <dl id="ukdiy"><ins id="ukdiy"><small id="ukdiy"></small></ins></dl>
              <div id="ukdiy"></div>

                <progress id="ukdiy"></progress>

                  <delect id="ukdiy"></delect>
                    <dl id="ukdiy"></dl>

                    <em id="ukdiy"></em>

                    <dl id="ukdiy"><ol id="ukdiy"></ol></dl><dl id="ukdiy"></dl>

                    <dl id="ukdiy"><ins id="ukdiy"><small id="ukdiy"></small></ins></dl>
                    <div id="ukdiy"></div>